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Bob Neves访谈：汽车与5G用电路板的导通孔可靠性和稳健性

  I-Connect007     五月 22, 2020

在IPC APEX展会期间我很高兴得采访了我的老朋友Bob Neves先生。Bob在微孔及通孔测试技术上有一些令人兴奋的新信息。 Happy Holden：Bob，让我们开始讨论这个大新 ...查看更多

【PCB测试】Bob Neves访谈：导通孔的可靠性和稳健性

  I-Connect007     五月 19, 2020

在IPC APEX展会期间我很高兴得采访了我的老朋友Bob Neves先生。Bob在微孔及通孔测试技术上有一些令人兴奋的新信息。 Happy Holden：Bob，让我们开始讨论这个大新闻& ...查看更多

采用新版HATS²技术的高速过孔可靠性测试

  Sky News     三月 02, 2020

中国常州报道—高加速热冲击HATS™   高速过孔可靠性测试系统已经使用HATS²™技术进行更新。该更新可让HATS™测 ...查看更多

采用新版HATS²技术的高速过孔可靠性测试

  Sky News     三月 02, 2020

中国常州报道—高加速热冲击HATS™   高速过孔可靠性测试系统已经使用HATS²™技术进行更新。该更新可让HATS&tra ...查看更多


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